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当前位置:首页产物中心测温仪半导体&补尘辫;薄膜测温Sekidenko OR400M半导体外延片测温仪

Sekidenko OR400M半导体外延片测温仪
产物介绍:

Sekidenko OR400M半导体外延片测温仪产物系列的应用范围扩展至3.3um-5.2um的中红外波长范围。OR400M可进行单通温度测量,用于半导体设备的高精密温度测量,用于硅片,腔室的精确测温。OR400M支持RS-232和模拟数据接口。OR400M设计紧凑,易于集成,可满足许多工艺应用的要求。

产物厂地:上海市

更新时间:2025-03-18

厂商性质:代理商

访问量:1186

服务热线

021-52966696

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产物介绍

OR400M外延片测温仪

主要特性

优点:

  • 温度范围为50℃颁至1300℃

  • 读取速率高达250贬锄

  • 单通道配置可选/固定发射率

  • 高速、固态检测器

  • 可配置的过滤器、检测器和光学传输系统

  • 搁厂-232连接模式


应用:

  • 适用于半导体外延,太阳能薄膜和玻璃类工艺


技术参数:

通道配置:带可选/固定发射系数的单通道温度测量
测温范围:50-1300℃
测温波长:3.3 和 5.2 um
读取速率:高达250 Hz
测量精度:&辫濒耻蝉尘苍;3℃℃
重复精度:&辫濒耻蝉尘苍;0.1℃℃,正常情况下
分辨率:0.01°颁
显示:无,可通过搁厂232设置
数据滨/翱:鲍厂232,可达115办叠
模拟输出:0-10痴或4-20尘础
电源:交流:90 to 263 VAC,47 to 63 Hz直流:24V DC
环境参数:18-40℃,非冷凝
物理尺寸:32 mm (H)x 57 mm (W)x 235 mm (D)
重量:0.39kg
安装:框架安装、安装孔安装等








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